西北工业大学分析测试中心系列讲座（第一期）

分析测试中心计划邀请具有国内一流TEM技术水平的专家来校，面向全校师生开展TEM技术讲座，为师生如何应用TEM功能开展科研做出指导。并对分析测试中心工程技术人员提供技术指导，解决目前TEM测试过程中存在的一些实际问题，提高中心为全校师生提供TEM测试的技术水平。

一、讲座目标

1、学校相关师生对电子显微方法有进一步的了解，对如何应用学校高端设备开展科研有一些思考。

2、中心工程技术人员球差、扫描透射测试技术水平有进一步的提高，能够为师生提供更高水平的测试。

3、通过技术交流能够切实解决目前电镜测试过程中存在的一些实际问题。

二、讲座主题

    电子显微技术的应用

三、讲座主讲人

    苏州纳米所张锦平 研究员

四、讲座时间

    2018年10月12日（周五），14:00—16:00

五、讲座地点

友谊校区的研究生西馆 XA203

六、主讲人简介

张锦平，博士生导师，中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所研究员，研究所测试平台电子显微镜实验室主要创建人。先后利用电子衍射、高分辨透射电子显微术和纳米束扫描透射电子显微术对包括C, swt-C, CN，BN，GaN，TiO2，SnO2等材料的纳米管/线、生物细胞中的量子点、磁性粒子、半导体量子点进行了详细表征和研究；对陶瓷材料中的微畴结构进行了观察，利用原位Lorentz显微术对单畴和畴壁运动进行表征。在Nature, Nano Lett, Phys. Rev. B, APL等国际高水平刊物发表了五十余篇相关论文。近期研究为在半导体中缺陷与孪晶现象、无机和生物纳米材料的结构与表征，特别是纳米催化反应中表面与界面的结构现象。应用高分辨原子和元素成像，以及纳米束显微分析对纳米材料生长、纳米界面分析，以及纳米晶体在生物细胞研究上的应用。曾研究高温超导、氧化物、III-V族半导体量子阱、量子点和量子柱等的微结构及磁性材料的磁畴等。

七、主要内容

1、         倒易空间与电子衍射；

2、         电子散射的动力学与缺陷观察的双束方法；

3、         电子衍射方法与高阶劳厄带；

4、         位错观察的双束方法：在明场/暗场的实现及弱束原理

内容简介：倒易点阵是晶体学中极为重要的概念，利用倒易点阵不仅可以简化晶体学中的某些计算问题，并且可以形象的解释晶体的衍射现象。进一步通过实验案列介绍常见的衍射实验方法。简单介绍双束系统的基本概念和原理，重点将讲述其在材料科学领域的典型应用，包括透射电镜样品的制备、微纳尺度材料力学性能测试样品的制备、材料三维成像及分析以及缺陷观察的双束方法等。

 

诚邀全校师生参加与交流！