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特高分辨率场发射扫描电镜(SEM)正式运行通知

2018年05月30日 08:55  

特高分辨率场发射扫描电镜(SEM)正式运行通知

2018530日起,长安校区特高分辨率场发射扫描电镜VeriosG4正式运行,欢迎大家预约测试。

一、            设备信息

1、  生产厂家:FEI

2、  型号:Verios G4

二、        技术指标

1、  同时装有二次电子和背散射电子探测器;

2、  配有电制冷能谱仪系统(预计六月份可使用);

3、  二次电子分辨率在最佳工作距离时分辨率:0.6nm@15kV1.2nm@0.2kV

4、  加速电压:350V~30kV;着陆电压:20V~30kV

5、  电子束流:0.8pA~100nA(连续可调);

6、  物镜光阑能自加热自清洁;

7、  电子束减速模式:-50V~- 4 kV

8、  集成等离子清洗器,可清洗样品或样品舱

三、        收费标准

1、  校内用户:200/小时

2、  校外用户:500/小时

3、  如需喷金,请在与SEM配套的长安校区离子溅射仪下面预约,收费:50/次。

四、        运行时间说明

由于设备近期继续安装能谱及背散射等探测器,正式运行期间会有一些时间为技术维护预留,敬请全校师生谅解。

五、        设备放置地点

长安校区实验大楼C109

六、        设备管理老师

朱燕灵:18682928994

  敏:15102923976

校分析测试中心

2018530

 

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