校分析测试中心“微雕细刻”——高倩雯老师专栏
高倩雯老师，2015年硕士毕业于西安理工大学材料科学与工程专业，2017年10月加入西北工业大学分析测试中心。主要擅长聚焦离子/电子双束电镜（FIB）、原子力显微镜（AFM）等仪器。
图片一 实验室工作照片
硕士期间的研究方向为触头材料的基本性能及耐电弧侵蚀性的研究。后就职于中航工业庆安集团有限公司，主要针对航空零件进行失效分析等。
加入分析测试中心后，高倩雯老师主要负责Helios G4 CX聚焦离子/电子双束电镜和Dimension Icon原子力显微镜的管理与测试工作，利用FIB拍摄过金属材料、陶瓷材料、高分子材料、碳纤维复合材料等，可熟练进行TEM定点制样、纳米图形加工等。运用AFM的成像功能获得过石墨烯的厚度、薄膜的表面粗糙度、微纳加工后的图形深度等。
其部分测试结果展示如下图所示。
图片二 （a）铜钴合金扫描图像（b）图a方框中钴纳米颗粒定点制备TEM样品
（c）AFM获取的陶瓷表面形貌 （d）片层状结构三维形貌
在工作中高倩雯老师思想坚定、爱岗敬业、积极进取、恪尽职守，对用户耐心细致、认真负责，时刻牢记分析测试中心全心全意为用户提供优质分析测试服务的宗旨，尽自己最大的努力服务校内外师生并提供更好的测试成果。
