校分析测试中心“刻画入微”——冯丹老师专栏

冯丹老师，2018年博士毕业于西安交通大学材料科学与工程专业，之后加入西北工业大学分析测试中心担任助理研究员。攻读博士学位期间，赴深圳南方科技大学联合培养，主攻材料的微观结构表征技术。主要擅长双球差校正透射电子显微镜（ACTEM）、聚焦离子/电子双束电镜（FIB） 等仪器。

        博士期间的研究方向为热电材料微观结构与输运性能的关联性研究。通过多种表征手段，结合第一性原理计算及Callaway模型，深入理解高性能热电材料中的声子散射机理，为进一步提高材料的热电性能提供理论基础。另外，她还参与了多个课题组的测试表征工作，为合作团队提供了大量表征分析结果，支撑了标志性文章发表。以第一作者在国际TOP期刊Nano Energy,  Materials Today Physics, Nanotechnology上报道了研究结果。

加入分析测试中心后，冯丹老师主要负责Themis Z双球差校正透射电子显微镜和Helios G4 CX聚焦离子/电子双束电镜的测试工作，利用透射电镜表征过纳米材料、石墨烯、铝合金、镁合金、钛合金、钢等多种材料中的微观结构，具备丰富的仪器操作及样品分析经验；同时，还熟练掌握FIB、离子减薄制备TEM样品，为用户提供TEM的样品制备、表征测试和结果分析等服务。测试结果展示如下图：

图1  a. 复合材料界面高分辨TEM像（ACTEM） b. 纳米材料TEM明场像 c. FIB制备多层膜材料TEM样品 d. FIB制备复合材料TEM样品

冯丹老师在工作中认真负责、精益求精，生活中乐观开朗、耐心随和，始终践行校分析测试中心全心全意为用户提供高水平分析测试服务的宗旨，在测试过程中，依靠丰富的表征分析经验，积极为用户提供测试结果分析的建议，支撑用户发表高水平论文，在工作中广受用户好评。