西北工业大学分析测试中心系列讲座（第二十四期）

一、报告题目：FIB-SEM双束技术简介及应用介绍

二、报 告 人：丁莹  助理研究员

 

三、报告时间：2021年6月11日（星期五），14:30-16:30

四、报告地点：友谊校区诚字楼225

五、报告摘要：

Helios G4 CX聚焦离子/电子双束电镜将超高分辨率场发射电子镜筒和高精度的聚焦离子镜筒结合在一起，可对材料进行微纳米表征、微纳加工和TEM样品定点制备等。

报告将着重介绍西北工业大学分析测试中心的Helios G4 CX聚焦离子/电子双束扫描电镜。内容包括：

1、双束系统介绍；

2、聚焦离子束系统的构造与工作原理；

3、双束系统的主要应用及案例介绍。

六、报告人简介：

丁莹，2016年博士毕业于湖南大学材料科学与工程专业。攻读博士学位期间，主要利用电子显微学研究薄膜材料的结构和性能之间的联系，找到影响薄膜具体性能的微观结构根源。毕业后于2018年7月加入西北工业大学分析测试中心，担任助理研究员。主要从事聚焦离子/电子双束电镜（FIB）、透射电子显微镜（TEM）等设备的分析测试工作，以及离子抛光、电解双喷等设备的制样工作。

 

热忱欢迎校内外师生积极参加！

 

2021年春季系列讲座预告：