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聚焦离子.电子双束电镜(FIB)
特高分辨率场发射扫描电镜(SEM)
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仪器列表
list
聚焦离子/电子双束电镜(FIB)
品牌:FEI 型号:Helios G4 CX 简介:Helios G4 CX聚焦离子/电子双束电镜将超高分辨率场发射电子镜筒和高精度的聚焦离子镜筒结合在一起,可对材料进行微纳米表征、微纳加工和TEM样品定点制备等。
仪器介绍
场发射高分辨透射电子显微镜
品牌:FEI 型号:Talos F200X 简介:在二维和三维微纳米级尺度下对材料进行快速准确的形貌观察、晶体结构分析、定性定量表征和原位动态试验。
仪器介绍
透射电镜原位纳米力学测试系统
品牌:Hysitron 型号:PI95 简介:可以在透射电镜中精确地定位压头并对变形过程成像,同时得到定量的载荷和位移的数据。
仪器介绍
扫描电镜原位纳米力学测试系统
品牌:Hysitron 型号:PI85 简介:可以在扫描电镜中精确地定位压头并对变形过程成像,同时得到定量的载荷和位移的数据。
仪器介绍
透射电镜原位液体加热电化学样品杆
品牌:Protochips 型号:Poseidon Select 简介:在透射电子显微镜内原位研究液体材料、液体加热和电化学性能。
仪器介绍
透射电镜原位加热电学样品杆
品牌: Protochips 型号:Fusion 350 简介:能够在透射电镜内研究材料热学、电学和热电性能。
仪器介绍
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