分析测试中心系列讲座（第四十三期）

一、报告题目：材料的透射电子显微学浅析

二、报 告 人：高翔宇

三、报告时间： 11月8日 14：00-16：00

四、报告地点：长安校区 教西C314

五、报告摘要：

随着电子显微学的发展，透射电镜作为最高端的表征手段之一，同时又是最普遍最基本的表征手段，只要研究方向和材料沾边，就离不开透射电镜。透射电子显微学本身是一门精深且独立的学科，又与晶体学和材料学密不可分。本讲座以透射电子显微学为主线，过程中穿插晶体学和材料学的一些基本概念，并携带TEM经典案例，更结合测试过程中所遇到的出现概率较高的几个问题在该讲座中予以解答，内容丰富多彩。可深则极其专业，可浅则通俗易懂，有关透射电子显微学的精彩尽在这里展现。

六、报告人简介：

高翔宇，博士，西北工业大学分析测试中心副研究员。2019年6月获得西北工业大学材料学博士学位，2019年8月加入西北工业大学分析测试中心。目前主要从事双球差矫正透射电子显微镜(ACTEM)、高分辨透射电子显微镜(TEM)、聚焦离子/电子双束电镜(FIB)、场发射扫描电镜(SEM)、显微共聚焦拉曼光谱仪等设备的测试服务及学生培训工作，不仅精通各设备的操作，并能对其测试结果做出深刻的理论分析，和透射电子显微密切相关的工作发表在《Scripta Materialia》、《Materials Characterization》、《Journal of Alloys and Compounds》、《MaterialsLetters》和《Materials and Materials Transactions A》上。

热忱欢迎校内外师生积极参加！