分析测试中心系列讲座（第六十四期）

文：陈建源   审核：张航 刘平

一、报告题目：FIB-SEM双束技术简介及应用介绍

二、报 告 人：丁莹

三、报告时间：2025年4月11日 14:30-16:30

四、报告地点：西北工业大学 长安校区 教西B211

五、 报告摘要：

聚焦离子/电子（FIB-SEM）双束系统将超高分辨率场发射电子镜筒和高精度的聚焦离子镜筒结合在一起，可对材料进行微纳米表征、微纳加工和TEM样品定点制备等。

报告将系统介绍双束系统的技术特点与应用场景，主要内容包括：

1、双束系统介绍；

2、聚焦离子束系统的构造与工作原理；

3、双束系统的主要应用及案例介绍。

六、报告人简介：

丁莹，博士，西北工业大学分析测试中心副研究员。2016年12月获得湖南大学材料科学与工程专业博士学位。2018年7月加入西北工业大学分析测试中心，主要从事聚焦离子/电子双束电镜（FIB-SEM）、透射电子显微镜（TEM）、X射线光电子能谱仪（XPS）等设备的分析测试工作，以及离子抛光等设备的制样工作。

热忱欢迎校内外师生积极参加！