校分析测试中心“以微知著”——王杰老师专栏

王杰老师，2017年博士毕业于南开大学物理科学学院，光学专业， 2017年7月加入校分析测试中心担任助理研究员。主要擅长等离子刻蚀（ICP）、透射电子显微镜（TEM）等仪器。

硕博期间的研究方向为芯片上集成的微米尺寸铌酸锂晶体微盘腔及其非线性光学效应，在Advanced Materials, Optics Express,Optics Letter等著名国际期刊发表多篇高水平论文。硕博期间有微纳加工制备光学微纳结构的经验，熟练掌握电子束曝光、反应离子刻蚀、紫外光刻、湿法腐蚀、二氟化氙气体刻蚀等微纳加工工艺。

工作后，王杰老师在中心主要负责ICP的管理、维护和操作，并承担TEM的设备维护和测试，具备很强的设备软硬件处理能力以及丰富的仪器操作经验。其部分工作结果展示如下图所示。

    图(a)是使用分析测试中心Plasma Pro 100等离子刻蚀系统深硅刻蚀工艺制备的沟槽结构的SEM照片。图(b)为使用反应离子刻蚀工艺制备的片上锥形硅柱阵列结构的SEM照片。(c)为使用分析测试中心Talos F200x 透射电镜拍摄的单晶钛酸锶样品沿[100]带轴方向的高分辨照片，右上角为其对应的电子衍射照片。(d)为Talos F200x透射电镜拍摄的多种结构的形貌照片展示。

王杰老师认真负责，践行我中心为用户提供公正、科学、可靠、准确检测结果的宗旨，全心全意为用户提供一流的分析测试服务。恪尽职守，为了保障设备的正常运转，经常加班到深夜排除设备故障。不断进取，将学习与工作紧密结合，不断提高自身分析测试水平。在测试工作中对师生热情积极，广受好评。