校分析测试中心“定点切微”——丁莹老师专栏

丁莹老师，2016年博士毕业于湖南大学材料科学与工程专业；之后在上海交通大学分析测试中心工作，2018年7月加入西北工业大学分析测试中心担任助理研究员。主要擅长透射电子显微镜（TEM）、聚焦离子/电子双束电镜（FIB） 等仪器。

博士期间的研究方向为钙钛矿结构薄膜材料的结构和性能之间的关系。具体研究内容为利用脉冲激光沉积方法制备BaTiO₃/SrTiO₃多层薄膜和BaZrO₃薄膜，通过对它们进行电学性能测试，然后运用 X 射线衍射、透射电子显微镜等先进结构表征技术，结合O点阵理论、弹性理论、薄膜屈服强度公式、绝缘体电流传导机制等理论，深入理解薄膜材料的结构和性能之间的关系，找出影响薄膜电学性能的微观结构原因。在RSC Advances，Journal of Growth ，Scripta Materialia等国际期刊发表多篇论文。

加入分析测试中心后，丁莹老师主要负责Talos F200X高分辨透射电镜和Helios G4 CX聚焦离子/电子双束电镜的测试工作，利用透射电镜拍摄过纳米材料，石墨烯等二维材料以及铝合金、钛合金、钢等金属材料，利用双束电镜拍摄过金属材料、陶瓷材料、纳米材料、二维材料、碳复合材料等，切过金属、陶瓷、碳复合材料等透射样品，也做过截面切割、表面刻蚀等微加工。

其部分工作结果展示如下图所示。

图 1 利用Talos F200X透射电镜拍摄的Ti合金的（a）明场像，（b）暗场像，（c）选区电子衍射，（d）高分辨图像。

图 2 利用Helios G4 CX 双束电镜所做的（a）碳/石墨烯复合材料形貌表征，（b）碳化硅纤维纵截面切割及表征，（c）双相钢表面腐蚀后形貌表征，（d）双相钢TEM标准片制备。

丁莹老师技术上具有丰富的电镜操作经验与高超的操作水平，对TEM、FIB等设备相关的理论知识理解透彻，对测试样品了解深入。工作态度上认真负责、爱岗敬业，对用户耐心细致、平易近人，始终践行我中心全心全意为用户提供优质分析测试服务的宗旨。