XPS应用工程师张伟来校讲座
——系列讲座十五
9月6日,西北工业大学分析测试中心邀请高德英特(北京)科技有限公司XPS应用工程师张伟,来校开展了题为《表面分析中XPS技术应用》的报告。报告由分析测试中心张航老师主持,来自航空学院、材料学院、机电学院、理学院、柔性电子研究院、分析测试中心等的80余位师生参与。
张伟工程师从XPS技术特点和表面分析技术、XPS在表面分析中的应用、XPS+UPS+LEIPS原位分析、XPS技术的新发展HAXPES以及Summary五个方面进行了详细讲解。重点介绍了XPS提供样品的原子组成和化学价态的信息;UPS测量半导体的价带信息,并提供样品的功函等信息;LEIPS提供样品的导带信息,并能够直接测量样品的电子亲和势。从UPS和LEIPS,可以计算出半导体带隙。张伟工程师耐心的讲解深深吸引着在场师生,现场气氛十分热烈。
报告结束后,张伟工程师以问答的形式就XPS应用技术和师生进行了深入的交流讨论,对师生的每个问题都作了专业细致的解答。通过本次讲座,学校相关师生对于XPS应用技术有了更深刻的了解,中心相关工程技术人员对于XPS应用有了更系统的理解,有利于后续XPS测试的进行,达到了开展讲座预期的目的。