XPS应用工程师张伟来校讲座

                                      ——系列讲座十五

9月6日，西北工业大学分析测试中心邀请高德英特（北京）科技有限公司XPS应用工程师张伟，来校开展了题为《表面分析中XPS技术应用》的报告。报告由分析测试中心张航老师主持，来自航空学院、材料学院、机电学院、理学院、柔性电子研究院、分析测试中心等的80余位师生参与。

张伟工程师从XPS技术特点和表面分析技术、XPS在表面分析中的应用、XPS+UPS+LEIPS原位分析、XPS技术的新发展HAXPES以及Summary五个方面进行了详细讲解。重点介绍了XPS提供样品的原子组成和化学价态的信息；UPS测量半导体的价带信息，并提供样品的功函等信息；LEIPS提供样品的导带信息，并能够直接测量样品的电子亲和势。从UPS和LEIPS，可以计算出半导体带隙。张伟工程师耐心的讲解深深吸引着在场师生，现场气氛十分热烈。

报告结束后，张伟工程师以问答的形式就XPS应用技术和师生进行了深入的交流讨论，对师生的每个问题都作了专业细致的解答。通过本次讲座，学校相关师生对于XPS应用技术有了更深刻的了解，中心相关工程技术人员对于XPS应用有了更系统的理解，有利于后续XPS测试的进行，达到了开展讲座预期的目的。