新闻中心

new

分析测试中心系列讲座(第四十四期)

2023年11月13日 09:13  

分析测试中心系列讲座(第四十四期)

一、报告题目:扫描电镜联用技术在材料表征中的应用

二、报 人:

李威 博士

三、报告时间:2023年11月14日 14:00-16:00

四、报告地点:友谊校区 西馆XA107

五、报告摘要:

扫描电镜在科研工作中发挥着巨大的作用,而近些年扫描电镜也朝着多元化的方向发展以满足不同场景的需求。其中扫描电镜联用技术就是非常重要的一个方向。它结合了不同的分析测试手段,可以提供更全面、准确的材料信息。

本报告将介绍扫描电镜同能谱EDS、波谱WDS、电子背散射衍射EBSD、拉曼光谱、飞行时间质谱、探针显微镜SPM等众多分析测试手段联用技术。可以在观察形貌的同时,在同一个位置进行多种手段的表征,获得形貌、成分、特殊和微量元素、结构、结晶度、应力和相变等多种微观属性以及它们之间的内在关系。这使得扫描电镜成为一个强大的综合分析测试平台,为科学研究和工程应用提供了新的可能性。

六、报告人简介:

李威,上海交通大学毕业。2003-2014年在上海交通大学分析测试中心工作,任扫描电镜室负责人,精通扫描电镜及各种相关附件和联用技术。著有《扫描电子显微镜及微区分析技术》一书,并被诸多用户采用为电镜教材。2014年加入TESCAN中国,任电镜应用技术专家,并先后担任了应用部经理,并在国内积极开拓了联用电镜技术。后转任大客户经理,负责TESCAN中国重要的联合实验室的相关培训和各类活动,及联用技术的应用拓展、推广宣传和培训工作。


热忱欢迎校内外师生积极参加

欢迎各位师生为分析测试中心讲座提供宝贵建议!

问卷链接:https://www.wjx.top/vm/QBmRD5m.aspx

长按识别扫码

上一条:分析测试中心系列讲座(第四十六期) 下一条:分析测试中心系列讲座(第四十三期)

关闭