仪器列表

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  • 聚焦离子/电子双束电镜(FIB)

    品牌:FEI 型号:Helios G4 CX 简介:Helios G4 CX聚焦离子/电子双束电镜将超高分辨率场发射电子镜筒和高精度的聚焦离子镜筒结合在一起,可对材料进行微纳米表征、微纳加工和TEM样品定点制备等。
  • 场发射高分辨透射电子显微镜

    品牌:FEI 型号:Talos F200X 简介:在二维和三维微纳米级尺度下对材料进行快速准确的形貌观察、晶体结构分析、定性定量表征和原位动态试验。
  • 双球差校正场发射透射电子显微镜

    品牌: FEI 型号:Themis Z 简介:用于二维和三维尺度对材料科学进行快速、精确的形貌观察和微区的晶体结构和定量表征,选择特定设计的样品台进行原位动态实验。
  • 原子力显微镜(AFM)

    品牌:Bruker 型号:Dimension FastScan和Dimension Icon 简介:Dimension系列扫描探针显微镜作为一种能够在原子尺度真实反应材料表面结构和性质的仪器,能够在大气环境下准确地观测样品表面纳米尺度的三维形貌,可对样品表面物理化学特性进行研究,如表面组分区别、表面电势、磁场力和其他表面力以及相互作用力的测量。
  • 特高分辨率场发射扫描电镜(SEM)

    品牌:FEI 型号:Verios G4 简介:利用二次电子或背散射电子信号对金属材料、半导体材料及高分子材料等微观结构进行表面形貌及断口分析,并配合能谱仪对样品元素进行半定量分析。
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