仪器列表

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  • 透射电镜原位气体加热样品杆

    品牌:Protochips 型号:Atmosphere 200 简介:在透射电子显微镜内控制气体压力和温度。
  • 双球差校正场发射透射电子显微镜

    品牌: FEI 型号:Themis Z 简介:用于二维和三维尺度对材料科学进行快速、精确的形貌观察和微区的晶体结构和定量表征,选择特定设计的样品台进行原位动态实验。
  • X射线衍射仪(XRD)

    简介:高精度垂直型测角仪,独立2轴驱动模式,可扩展的超大样品空间设计,可满足各种类型样品的X射线衍射分析要求,广泛应用从材料基础研究到工业生产控制等诸多领域。
  • X射线光电子能谱仪(XPS)

    简介:X射线光电子能谱仪,是一种表面分析技术,可以提供元素的定性、半定量、化学成像、表面价态、深度剖析等信息。
  • 原子力显微镜(AFM)

    品牌:Bruker 型号:Dimension FastScan和Dimension Icon 简介:Dimension系列扫描探针显微镜作为一种能够在原子尺度真实反应材料表面结构和性质的仪器,能够在大气环境下准确地观测样品表面纳米尺度的三维形貌,可对样品表面物理化学特性进行研究,如表面组分区别、表面电势、磁场力和其他表面力以及相互作用力的测量。
  • 特高分辨率场发射扫描电镜(SEM)

    品牌:FEI 型号:Verios G4 简介:利用二次电子或背散射电子信号对金属材料、半导体材料及高分子材料等微观结构进行表面形貌及断口分析,并配合能谱仪对样品元素进行半定量分析。
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