西北工业大学分析测试中心系列讲座（第十五期）

一、报告题目：表面分析中XPS技术应用

二、报告人：张伟（XPS应用工程师）

三、讲座时间：2019年9月6日（星期五），14:30-16:00

四、讲座地点：友谊校区研究生西馆XA201

五、报告摘要：

本次讲座中，将介绍表面分析技术，包括XPS、紫外光电子能谱（UPS）和低能反光电子能谱（LEIPS）。XPS提供样品的原子组成和化学价态的信息；UPS测量半导体的价带信息，并提供样品的功函等信息；LEIPS提供样品的导带信息，并能够直接测量样品的电子亲和势。从UPS和LEIPS，可以计算出半导体带隙。此外，还将展示在有机发光二极管（OLED）、太阳能电池和电池研究领域的应用。

表面分析技术中X射线光电子能谱（XPS）、紫外光光电子能谱（UPS）和反光电子能谱（IPES）可以从电子尺度研究表界面特性。利用扫描聚焦XPS可以提供高表面灵敏（<10 nm）和高空间分辨（<10 um）的化学态解析能力；通过结合团簇离子源（GCIB），更可以实现对多层膜结构材料进行无损深度剖析；通过配备样品传输管，可以实现样品在惰性气氛下传递，满足锂电池材料等气敏样品的测试需求；通过与UPS和IPES相结合，可以实现对芯能级、价带和导带电子结构信息的全面探测。

六、报告人简介：

张伟，2013年本科毕业于兰州大学材料物理专业，获得学士学位，2016年研究生毕业于中国科学技术大学国家同步辐射实验室，获得硕士学位。

从2013年开始接触表面分析和超高真空设备，同步辐射的技术和设备，已经有超过6年的表面分析以及超高真空方面的经验。

目前，主要负责包括X射线光电子能谱仪（XPS），俄歇电子能谱（AES）和飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）相关的表面分析设备的前期技术交流、市场推广、应用合作和销售等工作。

欢迎校内外师生参加与交流！