微区分析

聚焦离子/电子双束电镜(FIB)


聚焦离子/电子双束电镜

品牌:FEI

型号:Helios G4 CX

简介:Helios G4 CX聚焦离子/电子双束电镜将超高分辨率场发射电子镜筒和高精度的聚焦离子镜筒结合在一起,可对材料进行微纳米表征、微纳加工和TEM样品定点制备等。

品牌

FEI

型号

Helios   G4 CX

收费标准

待定

主要附件

电制冷能谱仪( ThermofisherThermo   NS7

电子背散射衍射仪(ThermofisherThermo   QuasOr

指标参数

Helios   G4 CX  主机

稳定性:优于   0.4%/10h

二次电子分辨率在最佳工作距离时分辨率::0.6nm@15kV1.2nm@1kV  

样品加工后,能快速切换到电子束检查与成像

背散射电子分辨率:    1.6nm@15kV

电子束和离子束交叉点、分析工作距离:4.0mm  

加速电压:200V-30KV   (电压范围连续可调)

束流强度:1pA   - 100nA

配置可加热式物镜光阑,自动光澜,具有自动烘烤自清洁功能

电子束减速模式:-   4 kV ~ 0V 15kV加速电压,设备分辨率0.6 nm

主要应用

Helios   G4 CX聚焦离子/电子双束电镜将超高分辨率场发射电子镜筒和高精度的聚焦离子镜筒结合在一起,可对材料进行微纳米表征、微纳加工和TEM样品定点制备等。

放置地点

友谊校区诚字106

负责人及联系方式

史学芳老师:13519173451

高倩雯老师:15991162971

 

关闭