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双球差校正场发射透射电子显微镜
品牌: FEI 型号:Themis Z 简介:用于二维和三维尺度对材料科学进行快速、精确的形貌观察和微区的晶体结构和定量表征,选择特定设计的样品台进行原位动态实验。
仪器介绍
共1条 1/1
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