微区分析

场发射高分辨透射电子显微镜


场发射透射电子显微镜

 

品牌:FEI

型号:Talos F200X

简介:在二维和三维微纳米级尺度下对材料进行快速准确的形貌观察、晶体结构分析、定性定量表征和原位动态试验。

5DD

品牌

FEI

型号

Talos F200X

收费标准

校内500/h,校外800/h

指标参数

加速电压:200 KV 电子枪:肖特基热场发射 TEM点分辨率:0.25nm TEM信息分辨率: 0.12 nm STEM分辨率: 0.16 nm 样品倾斜角度X/Y±30° 可同时采集4X幅来自不同角度的电子信号,明场 (BF),环形明场(ABF),环形暗场(ADF)和大角度环形暗场(HAADF)的图像。

主要应用

对各种材料内部微结构进行观察 粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察 选区电子衍射和晶体结构分析 金属、陶瓷、半导体、塑料、等显微结构分析 配合能谱仪可以对样品元素做面分布分析,以及各种元素进行定性和半定量微区分析,选择特定设计的样品台进行原位动态实验。

样品要求

1 透射电镜不做磁性样品;  2 对于粉末样品,要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥,能够区分支持膜正反面; 3 对于块体样品,要求样品大小为直径3mm的圆,厚度为200nm以下;4 高分辨样品要求厚度在10nm以下。

不测磁性样品原因

中心Talos F200X透射电镜是一台场发射高分辨透射电镜,如果所测样品为磁性材料,磁性材料会影响物镜极靴磁场特性的变化,进而降低电镜的分辨本领。如果磁性材料为纳米颗粒,则对物镜极靴影响更为严重,磁性颗粒很容易吸附到物镜上,污染镜筒光路,造成电镜不可修复性损伤。

学习资料

参见官网学习交流板块。

放置地点

长安校区 实验大楼B105

负责人及联系方式

王杰老师:15929947710

杨修波老师:17319977397

 

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